硅窗口简介

　　平面窗口片是一种平行平面板，通常用作电子传感器或外在环境检测器的保护膜。硅 (Si) 适用于红外应用。鑫视科科技提供不镀膜及镀 IR1 增透膜的硅 (Si) 平面窗口。

硅窗口特征

材料: 硅 (Si) 单晶	表面面型: 1波长 @ 633 nm
平行差: ＜1分	表面光洁度: 60/40
直径误差: +0.0/-0.1mm	厚度公差：±0.1mm
倒边: 保护性倒边0.2mmX45°	镀膜: 见产品列表

产品列表

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	SW81-010
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=10.00mm T=1.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 10.00 厚度(mm) 1.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-050-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=50.00mm T=3.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 50.00 厚度(mm) 3.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-012A-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=12.70mm T=2.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 12.70 厚度(mm) 2.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-012
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=12.50mm T=2.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 12.50 厚度(mm) 2.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-040-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=40.00mm T=2.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 40.00 厚度(mm) 2.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-010-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=10.00mm T=1.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 10.00 厚度(mm) 1.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-025A-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=25.40mm T=2.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 25.40 厚度(mm) 2.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-050
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=50.00mm T=3.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 50.00 厚度(mm) 3.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-025-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=25.00mm T=2.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 25.00 厚度(mm) 2.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-025
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=25.00mm T=2.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 25.00 厚度(mm) 2.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-040
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=40.00mm T=2.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 40.00 厚度(mm) 2.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-012A
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=12.70mm T=2.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 12.70 厚度(mm) 2.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-012-IR1
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=12.50mm T=2.00mm S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 12.50 厚度(mm) 2.00 镀膜 S1、S2：Ravg<1.5% @3~5μm 材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°
	SW81-025A
技术参数光谱曲线图技术服务硅（Si）平面窗口 D=25.40mm T=2.00mm 无镀膜硅 (Si) 单晶 RoHS 符合标准直径D(mm) 25.40 厚度(mm) 2.00 镀膜未镀膜材料硅 (Si) 单晶直径误差(mm) +0.0/-0.1 厚度公差(mm) ±0.1 表面面型 1波长@633nm 平行差＜1分表面光洁度 60/40 倒边保护性倒边0.2mmX45°